特許
J-GLOBAL ID:200903056555945931
光ピックアップ装置及びその収差補正方法並びに収差検出装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
佐々木 晴康 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-171597
公開番号(公開出願番号):特開2001-351254
出願日: 2000年06月08日
公開日(公表日): 2001年12月21日
要約:
【要約】【課題】 集光光学系の球面収差を計測し、かつ補正することにより、カバーガラス厚さ誤差、レンズ間隔誤差、レンズ厚さ誤差がある場合でも、単層光ディスクの情報記録層あるいは多層光ディスクの各情報記録層に情報を記録再生することができる光ピックアップ装置、収差補正方法並びに収差検出装置を提供する。【解決手段】 ホログラム2は、集光光学系10を通過した光ビームをその光軸に垂直な第1の直線CL1を境界として分割することで第1光ビームを生成して、計測手段7へと導く。計測手段7は、第1光ビームの光軸を通りかつ第1直線CL1に対応する直線を対称軸として、線対称な関係に設けられ、且つ、第1光ビームの光軸から離れた位置に配置された光感知器7c、光感知器7dを備えてている。光感知器7c、光感知器7dからの電気信号をそれぞれS3、S4としたときに、S3とS4との差を用いて収差信号を検出する。
請求項(抜粋):
光源と、該光源から照射される光ビームを光ディスクの記録面上に集光させる集光光学系と、少なくとも、前記記録面にて反射され前記集光光学系を通過した光ビームを分割して受光手段へ導く光学素子手段と、該光学素子手段からの光ビームを受光しその光量を計測する受光手段とを有する光ピックアップ装置において、前記光学素子手段にて分割形成され第1光ビームとして前記受光手段に入射する光ビームの、光軸に近い部分の光量と、光軸から離れた部分の光量に基づいて、前記集光光学系の収差を示す収差信号を生成する収差信号生成手段を備えたことを特徴とする光ピックアップ装置。
IPC (5件):
G11B 7/09
, G02B 13/00
, G11B 7/12
, G11B 7/13
, G11B 7/135
FI (5件):
G11B 7/09 B
, G02B 13/00
, G11B 7/12
, G11B 7/13
, G11B 7/135 A
Fターム (26件):
2H087KA13
, 2H087LA01
, 2H087LA25
, 2H087NA01
, 2H087PA02
, 2H087PA17
, 2H087PB02
, 2H087QA11
, 2H087QA21
, 2H087QA31
, 2H087QA41
, 2H087RA46
, 5D118AA06
, 5D118BA01
, 5D118CF05
, 5D118DA20
, 5D118DB12
, 5D119AA38
, 5D119AA40
, 5D119BA01
, 5D119EA03
, 5D119EC01
, 5D119JA24
, 5D119JA43
, 5D119KA19
, 5D119KA22
引用特許:
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