特許

J-GLOBAL ID：200903056716481825

表面疵検知方法及び装置

発明者： 八木 則明 ,  野頭 武人
出願人/特許権者： 住友金属工業株式会社
代理人 (1件)： 河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-196204
公開番号（公開出願番号）：特開平11-037949
出願日： 1997年07月22日
公開日（公表日）： 1999年02月12日
要約：

【要約】【課題】 丸ビレットの表面疵を自動的に精度良く検知する表面疵検知方法及び装置を提供する。【解決手段】 撮影手段1の光軸から所定の角度だけ離れた光軸を有する照明手段2にて丸ビレットBに光を照射し、丸ビレットBを撮影手段1で撮影する。撮影した画像に対して、微分処理,2値化処理等の画像処理を施し、その処理結果に基づいて丸ビレットBの表面疵Dを検知する。

請求項（抜粋）：

丸ビレットの表面疵を検知する方法において、検知対象の丸ビレットに光を照射し、前記丸ビレットにおける検知範囲を特定すべく、前記光の照射方向と特定の角度をなす方向を光軸として前記丸ビレットの表面を撮影し、撮影した画像に画像処理を施し、その画像処理結果に基づいて表面疵を検知することを特徴とする表面疵検知方法。