特許
J-GLOBAL ID：200903056723355924
製品の欠陥検査方法とその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
原田 信市
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-065934
公開番号（公開出願番号）：特開平6-258057
出願日： 1993年03月03日
公開日（公表日）： 1994年09月16日
要約：
【要約】【目的】 例えば大きな凹凸模様が形成されているような製品において、その凹部中又は凸部中に存在する大きな欠点であっても簡単な画像処理手法で高速にしかも的確かつ容易に検出できるようにする。【構成】 原画像データについて、縦横所定画素数の大判定画素領域Mごとにその中の最大の階調値を求めてその求めた最大階調値に置換することにより影を収縮させた後、その画像データと原画像データとの階調差を各画素ごとに算出し、その差分処理後の画素データについて、大判定画素領域Mの画素数より少ない縦横所定画素数の小判定画素領域Nごとにその中の中間の階調値を求めてその求めた中間階調値に置換することによりスムージングを行い、そのスムージング処理後の各画素データを2値化して各画素ごとに欠点の有無を判定する。
請求項（抜粋）：
投光器からの光を製品に照射してその透過光又は反射光をイメージセンサで受光し、該イメージセンサからの各画素の階調値を画像メモリに記憶して画像解析処理することにより製品の欠陥の有無を検査する方法において、(1) 前記画像メモリに記憶された1画面の原画像データについて、縦横所定画素数の大判定画素領域Mごとにその中の最大の階調値を求め、当該大判定画素領域M中の各画素の階調値をその求めた最大階調値に置換することを、大判定画素領域Mを順次移行させながら全画素について行う影収縮処理と、(2) その影収縮処理後の画像データと前記画像メモリに記憶された原画像データとの階調差を各画素ごとに算出する差分処理と、(3) その差分処理後の画素データについて、前記大判定画素領域Mの画素数より少ない縦横所定画素数の小判定画素領域Nごとにその中の中間の階調値を求め、当該小判定画素領域N中の各画素の階調値をその求めた中間階調値に置換することを、小判定画素領域Nを順次移行させながら全画素について行うスムージング処理と、(4) そのスムージング処理後の各画素データを2値化して各画素ごとに欠点の有無を判定する2値化処理と、(5) その2値化処理で欠点とされた画素数をカウントし、その画素数が一定値以上のとき欠陥有りとする欠陥判定処理と、からなることを特徴とする製品の欠陥検査方法。
IPC (4件)：
G01B 11/30
, G01N 21/88
, G01N 21/90
, G06F 15/64
