半導体集積回路のアクセスタイム測定装置および方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西教圭一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-067034
公開番号（公開出願番号）：特開平10-260235
出願日： 1997年03月19日
公開日（公表日）： 1998年09月29日
要約：

【要約】【課題】半導体集積回路のアクセスタイムを簡単な構成で高速に行うことを可能にする。【解決手段】タイミング発生器30は、アクセスタイム測定装置20が動作可能な最高のテストレートで出力判定タイミング信号を発生し、比較回路26の測定ポイントとする。分周カウンタ29は、設定回路21に任意に設定される分周比Nで分周した出力を測定タイミング信号としてパターン発生回路24および波形フォーマット回路25に与える。DUT22の出力信号OUTの判定は、1動作サイクル毎にN回行うことができ、測定の高速化を達成することができる。

請求項（抜粋）：

アクセスタイムを測定する対象となる半導体集積回路の動作速度に対応した測定サイクルで、所定の波形を有する測定用の入力信号を発生して測定対象の半導体集積回路に与える入力信号発生回路と、半導体集積回路の動作速度よりも大きく、測定装置として可能な動作速度に対応する判定サイクルで、入力信号発生回路の1回の測定サイクル内に複数回、出力判定のタイミング信号を発生し、測定サイクル毎に、タイミング信号の発生時点をずらせる判定信号発生回路と、判定信号発生回路からのタイミング信号に応答して、半導体集積回路からの出力信号を所定の期待値と比較し、一致しているか否かを比較する比較回路と、1回の測定サイクル内で、前記複数回に分けて、比較回路の比較結果を記憶する記憶回路とを含むことを特徴とする半導体集積回路のアクセスタイム測定装置。

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開昭61-022500
特開昭59-107282

前のページに戻る