特許
J-GLOBAL ID：200903056762899176

ICのインサーキットテスタによる足浮き、ブリッジ半田検出方法

発明者：
宮坂 隆夫

宮坂 隆夫 について


出願人/特許権者：
日置電機株式会社

日置電機株式会社 について


代理人 (1件)： 柳沢 大作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-032876
公開番号（公開出願番号）：特開平7-218573
出願日： 1994年02月03日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：
【要約】【目的】 ICに対する専用プローブの必要性をなくして、検査をスピード化する。【構成】 基板に実装半田付けしたIC30の少なくとも1ピン34を接続する独立パターン42と基板のグランド44との間に存在する浮遊容量46に蓄えられた電荷を放電した後、その浮遊容量46に対する直流の定電流充電を開始し、その過渡期間内における充電開始後の2つの異なる所定時間経過時の電圧をそれぞれ測定して浮遊容量72の値を算出し、その遊離容量72の値を先に同様にして算出した他の基板の半田付けが良好に行なわれている同様のICの同一箇所の浮遊容量の値と比べることによって足浮き、ブリッジ半田の有無を判定する。
請求項（抜粋）：
基板に実装半田付けしたICのインサーキットテスタによる足浮き、ブリッジ半田検出方法において、上記ICの少なくとも1ピンを接続する独立パターンと基板のグランドとの間に存在する浮遊の静電容量に蓄えられた電荷を放電した後、その浮遊容量に対する直流の定電流充電を開始し、その過渡期間内における充電開始後の2つの異なる所定時間経過時の電圧をそれぞれ測定して浮遊容量の値を算出し、その浮遊容量の値を先に同様にして算出した他の基板の半田付けが良好に行なわれている同様のICの同一箇所の浮遊容量の値と比べることによって足浮き、ブリッジ半田の有無を判定することを特徴とするICのインサーキットテスタによる足浮き、ブリッジ半田検出方法。
IPC (2件)：
G01R 31/02 ,  G01R 27/26
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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