特許
J-GLOBAL ID：200903056772979534
スキャンパス生成方法およびその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 英一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-257432
公開番号（公開出願番号）：特開平9-101976
出願日： 1995年10月04日
公開日（公表日）： 1997年04月15日
要約：
【要約】【課 題】 スキャン挿入後の論理回路を論理シミュレーション等のテストにかけて検証するに際し、設計者がそのデバッグをスキャン挿入前の回路図にアクセスしながら実行できるスキャンパス生成方法およびその装置を提供する。【解決手段】 スキャンパス生成装置に、スキャン挿入前の回路情報(元情報)を保存する元情報格納手段(50)と、スキャンパス情報を生成するスキャンパス生成手段(40)と、前記スキャンパス情報を差分情報として保存するスキャンパス情報格納手段(52)と、検証時に元情報とスキャンパス情報とを結合するスキャンパス情報結合手段(42)とを備え、スキャン挿入に際し、元情報を保存するとともに、スキャンパス情報を、元情報に付加すべき差分情報として生成、保存し、検証時に元情報と差分情報とを結合する。
請求項（抜粋）：
論理回路にその検証のためのスキャンパスを挿入するに際し、この論理回路の回路情報(元情報)を保存するとともに、スキャンパス情報を、元情報に付加すべき差分情報として生成、保存し、検証時に元情報と差分情報とを結合することを特徴とするスキャンパス生成方法。
FI (2件)：
G06F 15/60 654 N
, G06F 15/60 670
