特許

J-GLOBAL ID：200903056786999015

小振幅信号インタフェイス用入力回路

発明者： 奴賀 謙治
出願人/特許権者： 川崎製鉄株式会社
代理人 (1件)： 高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-000675
公開番号（公開出願番号）：特開平9-186579
出願日： 1996年01月08日
公開日（公表日）： 1997年07月15日
要約：

【要約】【課題】 差動増幅回路を有するセンスアンプを用いた、論理状態が定常時にも定常電流が流れてしまう入力回路の、微小なリーク電流の電源電流を測定してトランジスタの不良の有無を見出すIDDQテストを可能とする。【解決手段】 論理状態が定常時にも、センスアンプには100μA以上、場合によっては1mAもの電源電流が流れている。このような電源電流が流れていると、微小なIDDQ電流を測定することができない。テストモード信号QによってIDDQテスト時にセンスアンプ10の電源電流を遮断する。テストモード時にはセンスアンプ10の動作が停止されるが、並設するクロックドインバータ12によって入力端子PIからの信号を入力することができるため、IDDQテストパターンの入力を行うこともでき、テストの便宜を図ることもできる。

請求項（抜粋）：

H状態の論理状態を示す電位及びL状態の論理状態を示す電位の振幅が、CMOSレベルの振幅に比べて小さく規定された小振幅の、外部回路から伝達され入力されたインタフェイス入力信号の論理状態を、前記小振幅の中央値に対応する閾値電圧と比較するセンスアンプを用いて判定し、該判定結果のH状態あるいはL状態の論理状態を内部回路へ出力する小振幅信号インタフェイス用入力回路において、前記インタフェイス入力信号を入力するための入力端子と、通常動作モード、あるいはテストモードのいずれかの状態を示すテストモード信号を発生する信号発生回路と、H状態の論理状態を示す電位及びL状態の論理状態を示す電位の振幅がCMOSレベルの振幅の、外部回路から伝達され前記入力端子に入力されたインタフェイス入力信号の論理状態をCMOS回路を用いて判定し、該判定結果のH状態あるいはL状態の論理状態を内部回路へ出力すると共に、前記通常モード時には該出力をフローティング状態にする、前記テストモード時に前記センスアンプに代えて用いられるクロックドインバータ回路と、前記テストモード時には、前記センスアンプの増幅に用いる定電流を遮断し、当該センスアンプの出力をフローティング状態にする電流遮断回路と、を備えたことを特徴とする小振幅信号インタフェイス用入力回路。

IPC (6件)：

H03K 19/0175 ,  G01R 31/28 ,  H01L 21/8238 ,  H01L 27/092 ,  H03K 19/00 ,  H03K 19/0948

FI (5件)：

H03K 19/00 101 L ,  H03K 19/00 B ,  G01R 31/28 M ,  H01L 27/08 321 L ,  H03K 19/094 B