特許
J-GLOBAL ID：200903056934951710
分析用具の製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
吉田 稔
, 田中 達也
, 福元 義和
, 塩谷 隆嗣
, 古澤 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-350197
公開番号（公開出願番号）：特開2004-184180
出願日： 2002年12月02日
公開日（公表日）： 2004年07月02日
要約：
【課題】試薬部を備えた分析用具を製造する場合において、サイズの小さい試薬部であっても、コスト的に有利に、厚みムラを小さくできるようにする。【解決手段】基板上に、試料液中の特定成分と反応させるための試薬を含んだ試薬部を形成するための試薬部形成工程を有する分析用具の製造方法において、試薬部形成工程を、試薬を含む材料液を塗布した後に材料液を乾燥させる複数回の塗布・乾燥作業を含んだものとする。複数回の塗布・乾燥作業は、10〜200回とするのが好ましく、材料液の塗布は、たとえばインクジェット方式を採用した吐出装置を用いて行う。【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
基板上に、試料液中の特定成分と反応させるための試薬を含んだ試薬部を形成するための試薬部形成工程を有する分析用具の製造方法であって、
上記試薬部形成工程は、上記試薬を含む材料液を塗布した後に上記材料液を乾燥させる複数回の塗布・乾燥作業を含んでいることを特徴とする、分析用具の製造方法。
IPC (3件)：
G01N31/20
, G01N31/22
, G01N37/00
G01N31/20
, G01N31/22 121F
, G01N37/00 101
2G042AA10
, 2G042CB03
, 2G042DA00
, 2G042FB05
, 2G042HA02
