特許
J-GLOBAL ID:200903056963686030
測距装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鹿嶋 英實
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-250696
公開番号(公開出願番号):特開平10-096624
出願日: 1996年09月20日
公開日(公表日): 1998年04月14日
要約:
【要約】【課題】 コリメートされたレーザ光をスキャニングしつつ投光窓より投射光として出力し、この投射光が被検出物に当って生じる反射光を受光して被検出物体までの距離を検知するスキャニングレーザ方式の測距装置において、スキャニングの振り角を小さく維持しつつ、近距離での広範な検知エリアを確保する。【解決手段】 スキャニング方向の正面前方付近が投射光を平行に投射させる平面形状であり、スキャニング方向の斜め前方付近に投射光をより外方へ拡散させる溝11,12が形成された特殊形状の投光窓10を設ける。
請求項(抜粋):
コリメートされたレーザ光をスキャニングしつつ投光窓より投射光として出力し、この投射光が被検出物に当って生じる反射光を受光して被検出物体までの距離を検知するスキャニングレーザ方式の測距装置において、前記投光窓の少なくとも一部を、投射光を外側に屈曲させて拡散させる特殊形状としたことを特徴とする測距装置。
IPC (4件):
G01C 3/06
, G01B 11/00
, G01S 17/08
, G02B 26/10
FI (4件):
G01C 3/06 A
, G01B 11/00 B
, G01S 17/08
, G02B 26/10 D
前のページに戻る