特許
J-GLOBAL ID：200903056982593892
臨床分析を行う分析器における不良を検出する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-006918
公開番号（公開出願番号）：特開2001-221804
出願日： 2001年01月15日
公開日（公表日）： 2001年08月17日
要約：
【要約】【課題】 各不良モードを個別に攻撃することなく、高い不良検出効率を達成する。【解決手段】 本発明は、臨床分析を行う分析器における不良を検出する方法にある。分析器における分析不良を生ずる恐れのある潜在的エラー、及びその潜在的源が同定される。このように同定されたエラー源が臨床的に有意なエラーを生ずる確率も決定される。潜在的エラー源に対応した利用可能な検出手段が同定され、あわせて、このようなエラー検出手段の組み合わせが、付随する偽の分析不良検出の確率を低くしながら、エラーを許容できる限界にまで低減するそれらの確率に基づいて選択され、実施される。選択された各手段はエラー源に対処するために選ばれた他の手段から機能的に独立しており、同じ固有手段の誤検出をすることがない。臨床分析器におけるこの方法の応用も説明される。
請求項（抜粋）：
臨床分析を行う分析器における不良を検出する方法において、(a)分析器の分析不良に至る恐れがある潜在的エラーを同定し、(b)(a)において同定された潜在的エラーの潜在的源を同定し、(c)このようにして同定されたエラー源が臨床的に有意なエラーに至る確率を決定し、(d)潜在的エラー源に対応した潜在的なエラー検出手段を同定し、(e)このようなエラー検出手段を、偽の分析不良検出の確率を低くしながら、エラーを許容できる限界にまで低減するそれらの確率に基づいて選択し、実施する、各ステップを含む方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 35/00 F
, G01N 33/48 Z
