感光体の特性評価装置及び特性評価方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小島俊郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-188036
公開番号（公開出願番号）：特開2003-005578
出願日： 2001年06月21日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：

【要約】【課題】感光体の電子写真プロセス特性の測定と感光体固有の特性(物性値)を精度良くかつ効率良く測定する。【解決手段】接触式の変位センサ7で計測した結果により感光体1の感光層の膜厚を演算する処理と、帯電ユニット2で感光体1を帯電しているときに、計測した表面電位と帯電電流から感光層の静電容量を演算する処理と、演算した静電容量と感光層の膜厚から感光層の比誘電率を演算する処理と、帯電ユニット2で帯電を停止した後の表面電位と帯電を停止したときからの時間から暗減衰時定数を演算する処理及び演算した暗減衰時定数と感光層の静電容量と膜厚から比抵抗を演算することを自動的に実行し、1台の特性評価装置で感光体の電子写真プロセス特性及び感光体固有の特性(物性値)を評価する。

請求項（抜粋）：

被測定用の電子写真用感光体の周囲に配置された帯電ユニットと露光ユニットと除電ユニットと感光体の中心位置から表面までの距離を計測する距離計測手段と感光体の表面電位を計測する表面電位測定手段と、帯電ユニットにより帯電している感光体の帯電電流を計測する電流測定手段と、距離計測手段と表面電位測定手段と電流測定手段の計測結果を入力して感光体の特性を演算する制御装置とを有し、制御装置は、距離計測手段で計測した結果により感光体の感光層の膜厚を演算する処理と、帯電ユニットで感光体を帯電しているときに、表面電位測定手段で計測した表面電位と電流測定手段で計測した帯電電流から感光層の静電容量を演算する処理と、演算した静電容量と感光層の膜厚から感光層の比誘電率を演算する処理と、帯電ユニットで帯電を停止した後の表面電位測定手段で計測した表面電位と帯電を停止したときからの時間から暗減衰時定数を演算する処理及び演算した暗減衰時定数と感光層の静電容量と膜厚から比抵抗を演算する自動的に実行することを特徴とする感光体の特性評価装置。

Fターム (1件)：

2H134QA02

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