特許

J-GLOBAL ID：200903057045090334

半導体試験プログラム検査装置及び半導体試験プログラム検査方法

発明者： 三井 淳夫
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-306065
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124818
出願日： 1999年10月27日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 半導体試験プログラムの検査において、条件分岐命令の複数の条件分岐の検査を自動で行う半導体試験プログラムの検査装置及び検査方法の提供。【解決手段】 複数条件自動実行手段17は、条件命令が真および偽のどちらで実行するかを、実行条件記憶部18へ記録し、判定時に読み出し決定する。さらに、複数条件自動実行手段17は、条件命令が真と偽両方の条件で半導体試験プログラム11における命令が、プログラム命令模擬実行手段12により模擬的に実行され、プログラム検査手段15により検査されるように制御する。

請求項（抜粋）：

半導体試験プログラムが、半導体試験装置の制限事項を満たしているか否かを判別する半導体試験プログラム検査装置において、前記半導体試験プログラムに含まれる命令を模擬的に実行させるプログラム命令模擬実行手段と、前記半導体試験プログラムの条件分岐命令を複数の分岐条件で模擬的に実行させる複数条件自動実行手段と、前記半導体試験装置の動作を模擬的に実行させる試験装置模擬実行手段と、前記半導体試験装置の動作を模擬的に実行させた後の状態が保存される読み出し可能な試験装置状態記憶装置と、前記半導体試験プログラムが前記半導体試験装置の制限事項を満たしているか否かを判別し、検査結果を出力するプログラム検査手段と、この検査結果を表示する表示装置とを備えることを特徴とする半導体試験プログラム検査装置。

IPC (3件)：

G01R 31/26 ,  G06F 9/32 320 ,  G06F 11/22 310

FI (3件)：

G01R 31/26 G ,  G06F 9/32 320 F ,  G06F 11/22 310 A

Fターム (8件)：

2G003AH01 ,  2G003AH02 ,  2G003AH04 ,  5B033AA01 ,  5B033CA09 ,  5B048AA23 ,  5B048DD04 ,  5B048DD14