特許

J-GLOBAL ID：200903057065541855

磁気ディスク検査装置及び検査方法

発明者： 宮森 健一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-014496
公開番号（公開出願番号）：特開2001-209930
出願日： 2000年01月24日
公開日（公表日）： 2001年08月03日
要約：

【要約】【課題】 磁気記録媒体のディスクの性状を容易に検査すること。【解決手段】 検出体7に含まれる励磁コイルによって磁気ディスク3に渦電流を発生させ、その変動を検出コイルで検出し、基準ディスクを用いて予め作成した校正曲線と比較することにより、磁気ディスク3の記録層の性状を簡便に測定することができる。

請求項（抜粋）：

励磁コイル及び検出コイルを含む検出体と、導電物質からなる記録層を有する円盤状の磁気ディスクとを、相対移動させることによって該磁気ディスクの表面を走査すると共に、前記励磁コイルに所定の周波数の励磁電圧を供給することによって該磁気ディスクの記録層に渦電流を生じさせ、前記渦電流の変動に伴って前記検出コイルに発生する検出信号の変化を利用し、予め求めてある記録層にある欠陥の大きさと検出信号の出力値との校正曲線により、記録層にある特定大きさ以上の欠陥を判定するための判定手段とを備えたことを特徴とする磁気ディスク検査装置。

IPC (8件)：

G11B 5/84 ,  G01B 7/06 ,  G01N 27/90 ,  G11B 5/00 ,  G11B 11/105 581 ,  G11B 20/18 501 ,  G11B 20/18 ,  G11B 20/18 572

FI (9件)：

G11B 5/84 C ,  G01N 27/90 ,  G11B 5/00 D ,  G11B 11/105 581 E ,  G11B 20/18 501 C ,  G11B 20/18 501 F ,  G11B 20/18 572 B ,  G11B 20/18 572 F ,  G01B 7/10 Z

Fターム (29件)：

2F063AA16 ,  2F063BA30 ,  2F063BB03 ,  2F063BC06 ,  2F063BD07 ,  2F063BD13 ,  2F063DA01 ,  2F063DA05 ,  2F063GA08 ,  2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BA02 ,  2G053BA15 ,  2G053BA16 ,  2G053CA03 ,  2G053CA16 ,  2G053CA18 ,  2G053CA19 ,  2G053CC01 ,  5D075AA03 ,  5D075CC29 ,  5D075CF04 ,  5D091AA08 ,  5D091FF02 ,  5D091FF07 ,  5D091HH20 ,  5D112JJ01 ,  5D112JJ05 ,  5D112JJ09