特許

J-GLOBAL ID：200903057106707992

シ-ト状物体の特性測定装置

発明者： 山田 知行 ,  原 仁 ,  千葉 隆司 ,  磯崎 健二
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-249991
公開番号（公開出願番号）：特開平5-087733
出願日： 1991年09月30日
公開日（公表日）： 1993年04月06日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 照射時間のずれがなく素子感度に起因する誤差が発生する恐れのない装置を提供する。【構成】 投光部30からの光をシ-ト状物体を介して受光する受光素子12を有し,前記受光素子12からの信号に基づいて前記シ-ト状物体の物理的特性を測定するシ-ト状物体の特性測定装置において,投光部30は複数種の波長の光を同時に,かつ,同一箇所に対して出射する手段を有し,前記シ-ト状物体を透過して受光素子12に入射し,その受光素子12から出力する電気信号を前記波長に対応した周波数信号毎に分離するフィルタ61〜63を備えた。

請求項（抜粋）：

投光部からの光をシ-ト状物体を介して受光する受光素子を有し,前記受光素子からの信号に基づいて前記シ-ト状物体の物理的特性を測定するシ-ト状物体の特性測定装置において,前記投光部は複数種の波長の光を同時に,かつ,同一箇所に対して出射する手段を有し,前記シ-ト状物体を透過して受光素子に入射し,その受光素子から出力する電気信号を前記波長に対応した信号毎に分離するフィルタを備えたことを特徴とするシ-ト状物体の特性測定装置。