情報処理装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)： ▲柳▼川信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-005914
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206196
出願日： 1999年01月13日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】 PLLデータ読出し機能を有する装置において、システム評価時になんらかの動作不良が発生した場合に、その原因をPLL回路によるものかどうかを究明することができるようにする。【解決手段】 PLLカウンタ52の写しであるPLLカウンタコピー57を装置の通常のスキャンパスに組込む。そして、診断プロセッサ300を用いてPLLカウンタコピー57の内部状態値のスキャン読出しを行う。PLL回路の状態を外部からモニタでき、システム立上げ時にクロックが起因する不具合(例えば、PLLのロック不良とかLSI50内の各PLLの差異によるスキュー増大)を早期につきとめることができる。【効果】特別な測定器は不要で、信頼性向上のためのデータを収集できる。

請求項（抜粋）：

外部から入力されるクロックと同期した内部クロックを生成するDPLL回路を含み、前記内部クロックに同期して動作する被測定回路についての試験を行う情報処理装置であって、前記DPLL回路の動作状態を示す動作状態データを出力する動作状態導出手段を含むことを特徴とする情報処理装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G06F 11/22 360

FI (3件)：

G01R 31/28 G , G06F 11/22 360 P , G01R 31/28 V

Fターム (13件)：

2G032AA04 , 2G032AC10 , 2G032AD05 , 2G032AE07 , 2G032AE08 , 2G032AG07 , 2G032AK14 , 2G032AK16 , 5B048CC18 , 5B048DD05 , 5B048DD07 , 5B048DD10 , 5B048EE02

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開昭57-125363
特開昭57-125363
非常に高い周波数のフェーズロックループ用デジタルテスト技術
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-190743 出願人：ナショナルセミコンダクタコーポレイション

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