特許

J-GLOBAL ID：200903057209873718

ファインピッチ基板検査用治具

発明者： 南斎 高司
出願人/特許権者： 南斎 高司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-032975
公開番号（公開出願番号）：特開2002-202337
出願日： 2001年01月04日
公開日（公表日）： 2002年07月19日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 プリント基板検査機用治具の信頼性の向上【解決手段】 従来からある、プローブ1自身が湾曲することでバネ性を持つプローブ1を使用した治具に対して、プローブ1の中央付近にプローブ1の湾曲する方向を制御する制御板11を追加することで、プローブ1同士の接触を防ぎ、治具の信頼性を向上させる。

請求項（抜粋）：

薄い板状のガイド板と、そのガイド板を複数枚、間隔を空け、重ねて構成されるベース部分と、そのベース部分に開口された穴をガイドとして、配設される細長い棒状のプローブと、前記プローブが軸方向からの力を受けて、曲がる再に、前記ガイド板の内の1〜2枚が一定方向にスライドする事で、プローブを一定方向に、複数本のプローブが互いに接触するのを防ぎながら、バネ性を持たせている事を特徴とするプリント基板検査機用治具。

IPC (4件)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/06 ,  G01R 1/073 ,  H05K 3/00

FI (4件)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/06 D ,  G01R 1/073 D ,  H05K 3/00 T

Fターム (12件)：

2G011AA02 ,  2G011AB04 ,  2G011AB05 ,  2G011AB07 ,  2G011AB08 ,  2G011AC00 ,  2G011AE01 ,  2G011AF07 ,  2G014AA01 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10 ,  2G014AC19