特許
J-GLOBAL ID:200903057233624575

光ピックアップシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 秀和 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-281895
公開番号(公開出願番号):特開平7-182665
出願日: 1994年11月16日
公開日(公表日): 1995年07月21日
要約:
【要約】【目的】 光ビームの光効率を増大しうる改善されたナイフエッジ方法を用いる光ピックアップシステムを提供する。【構成】 光ビーム13を発射する光源12と、光ディスク上に位置した集束点17と光検出器22は一つの光軸60を形成し、第1および第2光電セル32,33を提供するために一様に分けられた受光面27を含み、各光電セルは焦点エラー信号を光強さ測定の形態で出力する光検出器22と、光源から光ディスクの記録面18までの光ビーム15を反射するために反射面を提供して光ディスクおよび光検出器の間に形成された光軸に対して予め定められた角度θで傾斜して設置されたナイフエッジ20と、ナイフエッジによって反射された光ビーム15を記録面上に集束させ、記録面から反射された光ビームをナイフエッジおよび光検出器へ集束させるため、ナイフエッジおよび光ディスクの間に設置された対物レンズ16と、第1および第2光電セルからの出力を比較して焦点エラー信号を発生するために、第1および第2光電セルに連結された差動増幅器28とを含む。
請求項(抜粋):
焦点エラーを検出する光ピックアップシステムにおいて、光ビームを発射する光源と、光ディスク上に位置した集束点と光検出器は一つの光軸を形成し、第1および第2光電セルを提供するために一様に分けられた受光面を含み、各々の光電セルは焦点エラー信号を光強さ測定の形態で出力を発生する前記光検出器と、前記光源から前記光ディスクの記録面までの光ビームを反射するために反射面を提供して前記光ディスクおよび前記光検出器のあいだに取り付けられ前記光軸に対して予め定められた角度で傾斜して取り付けられたナイフエッジと、前記ナイフエッジによって反射された光ビームが前記記録面上に集束させ、前記記録面から反射された光ビームをナイフエッジおよび光検出器へ集束させるため、前記ナイフエッジおよび前記光ディスクのあいだに取り付けられた対物レンズと、前記光検出器の前記第1および第2光電セルからの出力を比較して焦点エラー信号を発生するために、前記第1および第2光電セルに連結された差動増幅器と、を含むことを特徴とする光ピックアップシステム。
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開昭53-028405

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