特許
J-GLOBAL ID：200903057235306821
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-065709
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273662
出願日： 1993年03月24日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：
【要約】【目的】交流背景光下に於いても高精度の測距情報を得るため、AC光の周波数にIREDの発光期間を合わせることを特徴とする。【構成】この発明の測距装置にあっては、IREDドライバ2により電流が供給されて、IRED1から赤外信号光が投光レンズ4を介して被写体に対して投射される。被写体によって反射された反射信号光は、受光レンズ5によって受光センサ6上に集光され、更にAFIC7にて、受光センサ6の出力からの信号が、背景光から分離増幅される。CPU8では、この増幅された出力から被写体距離が演算される。また、受光素子9にて、被写体を照射する背景光が受光されると、AC光検出回路10にて、この受光出力から背景光が交流的に変化するかどうか、或いはその周期等が検出される。そして、この結果に従って、IRED1の発光回数、発光タイミングが、発光制御回路3で制御される。
請求項（抜粋）：
複数回に亘って被写体距離に関連する光信号を光電信号に変換してサンプリングし、このサンプリングした光電信号に基いて被写体距離を演算する測距装置に於いて、上記被写体の交流的に変動する周囲光の変動周期を検出する周期測定手段と、この周期測定手段によって検出された上記変動周期の整数倍の間、上記サンプリングを制御する制御手段とを具備したことを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G02B 7/32
, G01C 3/06
, G03B 13/36
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
