特許

J-GLOBAL ID：200903057349346483

電磁超音波探傷装置及び磁歪効果を用いる超音波探傷方法

発明者： 清田 文範 ,  脇部 康彦 ,  山根 正樹 ,  安藤 譲一 ,  マーク バーガンダー
出願人/特許権者： 新日本非破壊検査株式会社 ,  日本ホッキング株式会社
代理人 (1件)： 中前 富士男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-142249
公開番号（公開出願番号）：特開平11-326286
出願日： 1998年05月08日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】 測定前のスケール除去の作業を省略でき、機械的な振動部分がなく耐久性に優れ、しかも微細な内部欠陥を精度良く検出できる電磁超音波探傷装置及び磁歪効果を用いる超音波探傷方法を提供する。【解決手段】 厚み又は内部欠陥12を検知しようとする被試験材11の磁性体成分を含む表層部20に略垂直方向となる一定のバイアス磁場を付加する永久磁石22又は電磁石と、表層部20に変動する磁場を付加して超音波のパルスを発生させ、超音波の反射エコーによる表層部20の歪みの変動を磁場の変化として検出する送受信用コイル21とを備えた探触子13を有する。

請求項（抜粋）：

厚み又は内部欠陥を検知しようとする被試験材の磁性体成分を含む表層部に略垂直方向となる一定のバイアス磁場を付加する永久磁石又は電磁石と、前記バイアス磁場の付加された前記表層部に変動する磁場を付加して超音波のパルスを発生させ、該超音波の反射エコーによる前記表層部の歪みの変動を磁場の変化として検出する送受信用コイルとを備えた探触子を有することを特徴とする電磁超音波探傷装置。

IPC (2件)：

G01N 29/04 504 ,  G01B 17/02

FI (2件)：

G01N 29/04 504 ,  G01B 17/02 D

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭53-099989
  
• 特開昭53-099989
  
• 特開昭62-161048
  
• 特開昭62-161048