特許

J-GLOBAL ID：200903057423788078

眼科装置

発明者： 上野 登輝夫 ,  羽根渕 昌明
出願人/特許権者： 株式会社ニデック
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-289077
公開番号（公開出願番号）：特開2006-101927
出願日： 2004年09月30日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：

【課題】 高速測定を維持しつつ奥行方向の測定範囲を拡大することのできるスペクトル干渉OCTを用いた眼科装置を提供する。【解決手段】 被検眼の特性を測定又は撮影する眼科装置において、低コヒーレント長の光の一部を被検眼に照射する測定光光学系と、低コヒーレント長の光の一部を参照光とする参照光光学系と、参照光と被検眼からの反射光とを合成して干渉させ,得られた干渉光を所定の周波数成分に分光する干渉光学系と、干渉光学系にて周波数成分に分光する際における分光特性を変化させる分光特性変更手段と、周波数成分に分光された光を受光する受光手段と、受光手段による受光信号に基づいて被検眼の特性を測定又は撮影する制御手段と、を備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被検眼の特性を測定又は撮影する眼科装置において、低コヒーレント長の光の一部を被検眼に照射する測定光光学系と、前記低コヒーレント長の光の一部を参照光とする参照光光学系と、前記参照光と前記被検眼からの反射光とを合成して干渉させ,得られた干渉光を所定の周波数成分に分光する干渉光学系と、該干渉光学系にて前記周波数成分に分光する際における分光特性を変化させる分光特性変更手段と、前記周波数成分に分光された光を受光する受光手段と、該受光手段による受光信号に基づいて被検眼の特性を測定又は撮影する制御手段と、を備えることを特徴とする眼科装置。

IPC (4件)：

A61B 3/10 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/17 ,  G01B 11/24

FI (4件)：

A61B3/10 Z ,  A61B10/00 E ,  G01N21/17 625 ,  G01B11/24 D

Fターム (38件)：

2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065BB07 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065FF51 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL04 ,  2F065LL08 ,  2F065LL09 ,  2F065LL13 ,  2F065LL42 ,  2F065LL46 ,  2F065LL67 ,  2F065MM07 ,  2F065PP02 ,  2F065QQ16 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G059AA06 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04

引用特許：

出願人引用 (4件)

• スペクトル干渉に基づく光学・トモグラフィ-および光学表面プロファイル測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-082817   出願人：カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
• 眼に対する光多重ショートコヒーレンス干渉測定方法および配置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-239995   出願人：カールツアイスメディテックアクチエンゲゼルシャフト
• 眼球の光学的データの検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-098207   出願人：カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
• 眼科装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-139940   出願人：キヤノン株式会社