特許

J-GLOBAL ID：200903057443530255

間接凝集免疫測定方法に用いるマイクロプレート

発明者： 斉藤 智雄 ,  相馬 和典
出願人/特許権者： 富士レビオ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-030162
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201387
出願日： 1995年01月27日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：

【要約】【構成】 マイクロプレートの各ウエルのV型底部に免疫測定用試薬の磁性体粒子または磁性体を含む粒子を含有した成分を磁力によって強制沈降させたのち、該マイクロプレートを傾斜させ、各ウエルの底部に粒子の流れ出しによる沈降パターンを形成し、該沈降パターンによって免疫反応の有無を判定する間接凝集免疫反応に用いるマイクロプレートで、ウエル底部のV型の角度が118〜123°であり、ウエル底部内側の曲率半径が0.3〜0.9mmであり、ウエル底部外側の曲率半径がウェル底部内側の曲率半径とウェル底部の壁厚の和であるウエルを有するマイクロプレート及び該マイクロプレートを用いた間接免疫凝集測定方法。【効果】 本発明により、間接免疫凝集反応測定に適したマイクロプレートが提供され、該マイクロプレートを用いた測定により免疫反応の結果を正確に判定できるようになった。

請求項（抜粋）：

マイクロプレートの各ウエルのV型底部に免疫測定用試薬の磁性体粒子または磁性体を含む粒子を含有した成分を磁力によって強制沈降させたのち、該マイクロプレートを傾斜させ、各ウエルの底部に粒子の流れ出しによる沈降パターンを形成し、該沈降パターンによって免疫反応の有無を判定する間接凝集免疫反応に用いるマイクロプレートで、ウエル底部のV型の角度が118〜123°であり、ウエル底部内側の曲率半径が0.3〜0.9mmであり、ウエル底部外側の曲率半径がウェル底部内側の曲率半径とウェル底部の壁厚の和であるウエルを有するマイクロプレート。