特許
J-GLOBAL ID：200903057451657957
3次元画像計測方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
塚本 正文 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-248680
公開番号（公開出願番号）：特開平8-086616
出願日： 1994年09月16日
公開日（公表日）： 1996年04月02日
要約：
【要約】【目的】 スリット光を照射した計測物体の撮像回数が減り識別処理時間の短縮が図れるとともに、走査方法が回転のためスリット光の平行走査時のスリット光と同一方向の識別精度低下の改善が得られる3次元画像計測方法及び装置を提供する。【構成】 3次元の計測物体1に交差する複数スリット光例えば十字スリット光2を照射するレーザー3と、十字スリット光2を発するレーザーヘッド4を交差点付近を中心の回転及び上下左右の平行移動が可能に装架したレーザーヘッド架台5と、交差する十字スリット光2が照射されている計測物体1を撮像するCCDカメラ6と、CCDカメラ6で撮像された画像信号10を処理する画像処理部8及びレーザーヘッド4の作動を制御するレーザーヘッド制御部9を内蔵したコンピューター7とを具えている。
請求項（抜粋）：
レーザーによるスリット光を複数交差させ、これを3次元の計測物体に照射するとともに次の照射では交差点付近を中心に複数スリット光を回転させ、計測物体の前回とは違う位置に照射していき、計測物体上に照射された複数スリット光によりできる切断線をカメラで各回転毎に撮像して切断線データにより計測物体の位置,形状を識別することを特徴とする3次元画像計測方法。
IPC (4件)：
G01B 11/00
, G01B 11/24
, G06T 7/00
, G06T 1/00
G06F 15/62 415
, G06F 15/64 M
