特許

J-GLOBAL ID：200903057498947341

磁界センサ配置および磁界非接触測定方法

発明者： アブヴァ、サリ ,  ブランドル、マンフレド ,  ヤニシュ、ヨーセフ
出願人/特許権者： オーストリアマイクロシステムス アーゲー
代理人 (4件)： 木村 満 ,  木村 美穂子 ,  毛受 隆典 ,  森川 泰司
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-546237
公開番号（公開出願番号）：特表2009-520195
出願日： 2006年12月19日
公開日（公表日）： 2009年05月21日
要約：

磁界センサ配置(4)は、第1の磁界センサ体(20)と第2の磁界センサ体(40)とを有する積層配置(1)から構成される。第1の磁界センサ体(20)は、第1の磁界感知要素(23)が配置される第1の主要面(21)と、第1の主要面(21)に略平行の第2の主要面(22)とを有する。同様に、第2の磁界センサ体(40)は、第2の磁界感知要素(43)が配置される第1の主要面(41)と、第1の主要面(41)に略平行の第2の主要面(42)とを有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1の磁界感知要素(23)が配置される第1の主要面(21)と、前記第1の主要面(21)に略平行である第2の主要面(22)と、出力側で第1の磁界感知信号(MS1)がアクセスされうる第1の磁界評価回路(25)と、を有する第1の磁界センサ体(20)と、 第2の磁界感知要素(43)が配置される第1の主要面(41)と、前記第1の主要面(41)に略平行である第2の主要面(42)と、出力側で第2の磁界感知信号(MS2)がアクセスされうる第2の磁界評価回路(45)と、を有する第2の磁界センサ体(40)と、 を有する積層配置(1)を備える、磁界センサ配置。

IPC (2件)：

G01R 33/07 ,  G01R 33/02

FI (2件)：

G01R33/06 H ,  G01R33/02 U

Fターム (3件)：

2G017AC06 ,  2G017AD53 ,  2G017AD56