特許
J-GLOBAL ID：200903057516045210
電磁場解析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-324848
公開番号（公開出願番号）：特開平6-123752
出願日： 1992年11月10日
公開日（公表日）： 1994年05月06日
要約：
【要約】【目的】 任意形状の導線を含む解析対称領域の電磁場解析を効率的且つ精度良く行う。【構成】 計算機に、導線の所定部位における電位を初期条件として入力し、この電位に基づき且つ電流連続の条件を満たすように導線中の強制電流密度分布を節点要素有限要素法を用いて計算し、この得られた強制電流密度分布を用いて解析対象領域の電磁場を辺要素有限要素法を用いて解析する。
請求項（抜粋）：
計算機を用い、導線を含む解析対象領域の電磁場を解析する方法において、前記導線の所定部位における電位を初期条件として与え、この電位に基づき且つ電流連続の条件を満たすように前記導線中の強制電流密度ベクトル分布を求め、この得られた強制電流密度ベクトル分布を用いて前記解析対象領域の電磁場を解析することを特徴とする電磁場解析方法。
IPC (5件)：
G01R 29/08
, G01R 27/00
, G01R 33/02
, G01R 33/10
, G06F 15/353
