特許
J-GLOBAL ID：200903057544322408
物体の塗布状態評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-262629
公開番号（公開出願番号）：特開2006-071645
出願日： 2005年09月09日
公開日（公表日）： 2006年03月16日
要約：
【課題】 プラズマディスプレイパネルの蛍光体塗布状態を評価する方法に関し、基板に形成された蛍光体層の形状を非破壊検査によって、プラズマディスプレイパネルの製造工程中に検出することを課題とする。【解決手段】 基板に塗布される蛍光体の塗布状態を評価する方法であって、発光色の異なる少なくとも2種類の蛍光体を塗布した後の基板表面を紫外線で照明した状態で該基板表面を各発光色を検出する異なる光検出器で走査し、各検出器から得られる電気パルス信号のパルス幅を比較して各蛍光体の塗布状態を評価することを特徴とする。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
基板に塗布される蛍光体の塗布状態を評価する方法であって、発光色の異なる少なくとも2種類の蛍光体を塗布した後の基板表面を紫外線で照明した状態で該基板表面を各発光色を検出する異なる光検出器で走査し、各検出器から得られる電気パルス信号のパルス幅を比較して各蛍光体の塗布状態を評価することを特徴とする物体の塗布状態評価方法。
IPC (4件)：
G01B 11/02
, G01N 21/88
, G01M 11/00
, G01N 21/956
G01B11/02 Z
, G01N21/88 K
, G01M11/00 T
, G01N21/956 Z
2F065AA06
, 2F065AA49
, 2F065AA52
, 2F065BB01
, 2F065BB21
, 2F065CC00
, 2F065GG06
, 2F065GG21
, 2F065JJ01
, 2F065JJ18
, 2F065MM07
, 2F065NN08
, 2F065PP12
, 2F065PP22
, 2F065SS02
, 2F065SS03
, 2F065SS13
, 2G051AA73
, 2G051AB02
, 2G051AB12
, 2G051BA05
, 2G051BA08
, 2G051BA10
, 2G051CA03
, 2G051CA07
, 2G051CB10
, 2G051DA07
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G086EE12
