特許
J-GLOBAL ID：200903057558478745
故障検出システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-177505
公開番号（公開出願番号）：特開平5-341005
出願日： 1992年06月11日
公開日（公表日）： 1993年12月24日
要約：
【要約】【目的】 故障回路の故障絞り込み方式で、多重故障を単一故障の仮定のみにより絞り込むことで、絞り込み時間を短縮し、また絞り込み過程におけるメモリ使用量も削減する。【構成】 テスタエラー観測点情報5を基に、エラー観測点別回路グループ分け手段1により、各エラー観測点からファンイントレースを行って故障回路をエラー観測点別にグループ分けを行う。エラー確率算出手段3にて故障を仮定して故障シミュレーションを行い、この仮定した故障が存在する回路グループのエラー観測点がテスタでエラーとなる回数とエラー観測点の故障シミュレーションでの故障検出回数により、エラー確率を算出し、エラー原因12を出力する。
請求項（抜粋）：
故障検出すべき論理回路の回路情報とテスタによりエラーを観測すべきエラー観測点を予め定めたエラー観測点情報とから、前記エラー観測点毎にその観測点のみに影響を及ぼす単独回路グループとその観測点のみならず他のエラー観測点に対しても影響を及ぼす重複回路グループとを夫々検出してエラー観測点対応に回路グループ分けを行う手段と、このエラー観測点対応の回路グループの各々において予め定められた各故障定義箇所に対して所定テストパタンを入力しつつ故障シミュレーションをなす手段と、この故障シミュレーションにおいて仮定した故障箇所が存在する回路グループに対応する前記エラー観測点の状態値と、前記テストパタン入力時の当該エラー観測点の正常状態値と、更には前記テストパタンを使用してテスタにより予め得られている当該エラー観測点の状態値とを用いて、当該エラー観測点のエラー発生確率を算出する手段とを含むことを特徴とする故障検出システム。
IPC (2件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 310
