特許

J-GLOBAL ID：200903057561570350

X線異物検査装置

発明者： 政木 俊道 ,  大久保 勇三
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-108628
公開番号（公開出願番号）：特開2004-317184
出願日： 2003年04月14日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：

【課題】容器底面の肉厚によって透過X線量が減少することに伴う異物検出の判定誤差を抑える。【解決手段】X線源6からはライン状のX線が照射され、検査対象物2は搬送機構4a,4bの定められた方向からX線が照射された位置を通過していく。X線源2とラインセンサ8は検査対象物2が移動する方向に対して、垂直な面内で斜め上下に配置されており、ラインセンサ8はX線源6からのライン状のX線7を受ける。ラインセンサ8はラインセンサ8上に照射されたX線量分布に比例した電圧信号波形であるラインセンサ信号を出力し、ラインセンサ信号は信号処理部10に入力され、異物の有無が判定される。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

ライン状のX線を照射するX線源と、前記X線源から照射されたX線を検出するように前記X線源に対向して配置されたX線検出部と、容器に収容された検査対象物が前記X線源からのX線を横切るように検査対象物を水平方向に移動させる搬送機構とを備え、前記X線源からのX線が検査対象物を透過した後の前記X線検出部によるX線検出強度に基づいて検査対象物内の異物の有無を判定するX線異物検査装置において、 前記X線源を前記搬送機構による検査対象物の搬送方向に対して垂直な面内で、X線照射位置にある検査対象物に対して斜め方向にX線を照射する位置に配置したことを特徴とするX線異物検査装置。

IPC (1件)：

G01N23/04

FI (1件)：

G01N23/04

Fターム (9件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001LA01 ,  2G001PA06 ,  2G001PA11