特許

J-GLOBAL ID：200903057610980799

ICテストシステム及びICテストシステムにおけるデ-タ転送方法

発明者： 門奈 正人
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-010694
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206200
出願日： 1999年01月19日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、従来の転送方式をパタンデータに応じた適切な方式を選択し、かつ転送速度の向上を図った実用的なICテストシステム及びICテストシステムにおけるデータ転送方法を提供することである。【解決手段】 ICテストシステム10は、パタンデータをパタンメモリ43の1アドレス分毎に直接転送する方式と、DMA専用メモリ41へ展開データとして転送した後、試験部4内でDMA専用メモリ41からパタンメモリ43へDMA転送させるDMA転送方式、さらに、この間接転送におけるDMA専用メモリ41からパタンメモリ43へのDMA転送時にアドレスを逐次指定するアドレス可変転送方式の3つの転送方式を用いる。また、ICテストシステム10は、展開データのサイズ等に応じて転送方式を自動的に選択・決定を行う。

請求項（抜粋）：

各種テスト用データを記憶する記憶手段を備え、この記憶手段に記憶された各種テスト用データに基づいて被測定ICを試験する試験装置と、各種テスト用データを各種転送方式で前記試験装置に転送するための転送手段を備えた転送装置と、から構成されたICテストシステムにおいて、前記転送装置は、前記各種テスト用データのデータ内容に基づいて前記各種転送方式を適宜選択する転送方式選択手段を更に備え、前記転送手段は、この転送方式選択手段により選択された転送方式に従って転送対象のテスト用データを前記試験装置に転送することを特徴とするICテストシステム。

IPC (5件)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 330 ,  G06F 13/28 310 ,  H04L 12/28

FI (5件)：

G01R 31/28 H ,  G06F 11/22 310 B ,  G06F 11/22 330 B ,  G06F 13/28 310 D ,  H04L 11/00 310 Z

Fターム (14件)：

2G032AA01 ,  2G032AA07 ,  5B048AA20 ,  5B048DD05 ,  5B061DD01 ,  5B061DD09 ,  5B061DD12 ,  5B061QQ05 ,  5K033AA01 ,  5K033BA03 ,  5K033BA13 ,  5K033DB01 ,  5K033DB12 ,  5K033DB16