特許
J-GLOBAL ID：200903057617061446
感光体特性評価装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
金田 暢之
, 伊藤 克博
, 石橋 政幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-363623
公開番号（公開出願番号）：特開2004-198474
出願日： 2002年12月16日
公開日（公表日）： 2004年07月15日
要約：
【課題】電子写真プロセスに関わる膜質特性を正確に評価することのできる感光体特性評価装置を提供する。【解決手段】円筒状の感光体101の表面電位を測定するための表面電位測定プローブ104と、この表面電位測定プローブ104の測定位置と同じ位置を測定するように設けられた、感光体101の膜厚を測定するための膜厚測定プローブ112と、表面電位測定プローブ104および膜厚測定プローブ112による各測定を制御するとともに、該各測定の結果から感光体101の膜質特性を計算する制御手段とを有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
円筒状の感光体の表面電位を測定する表面電位測定手段と、前記表面電位測定手段の測定位置と同じ位置を測定するように設けられた、前記感光体の膜厚を測定する膜厚測定手段と、
前記表面電位測定手段および膜厚測定手段による各測定を制御するとともに、該各測定の結果から前記感光体の膜質特性を計算する制御手段とを有することを特徴とする感光体特性評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
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