特許
J-GLOBAL ID：200903057642033643
半導体レーザの劣化検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-313770
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167741
出願日： 1993年12月14日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：
【要約】【目的】半導体レーザの発光出力と駆動電流との関係を示す駆動効率に基づいて、半導体レーザにおける劣化の発生を早期に検出する。【構成】半導体レーザ1を駆動制御するAPC回路5に異なる発光出力範囲を設定する出力設定パルスP1〜P4を出力する劣化検出制御回路6と、発光出力Q1,Q2及びQ3,Q4での半導体レーザ1の駆動電流に相当する電圧を保持するコンデンサC1,C2と、一方の発光出力範囲(Q1〜Q2)の間におけるコンデンサC1,C2の充電電圧差を保持するコンデンサC3、及び、他方の発光出力範囲(Q3〜Q4)におけるコンデンサC1 ,C2の充電電圧差を保持するコンデンサC4と、を設け、コンデンサC3の充電電圧とコンデンサC4の充電電圧との差が基準値以下であるか否かを差動増幅回路8および比較回路9で判断し、両者の差が基準値を超えた時、半導体レーザ1に劣化を生じたと判断する。
請求項（抜粋）：
駆動電流および環境温度に応じて変化する半導体レーザの特定の発光出力を実現する駆動電流値を検出する駆動電流検出手段と、特定の発光出力範囲における発光出力と駆動電流検出手段の検出結果との関係を駆動効率として検出する駆動効率検出手段と、発光出力範囲または環境温度の少なくとも一方が異なる2種類の駆動条件下における駆動効率を比較し、両者の差が所定値を超えた際に半導体レーザが劣化したと判断する駆動効率比較手段と、を設けたことを特徴とする半導体レーザの劣化検出装置。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G01R 31/26
, H01S 3/096
