特許

J-GLOBAL ID：200903057733472291

質量分析用試料台

発明者： 古田 薫
出願人/特許権者： 凸版印刷株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-284799
公開番号（公開出願番号）：特開2008-102020
出願日： 2006年10月19日
公開日（公表日）： 2008年05月01日
要約：

【課題】 レーザー光照射により分析対象物をイオン化し質量分析を行う質量分析用試料台において、微小且つ微量試料の質量情報を感度よく、高い空間分解能を有するデータを得るための質量分析用試料台を提供することを目的とする。【解決手段】 逆ペロフスカイト構造を持つ結晶体を基材と分析対象物の間に設けることにより、イオン化効率を高くすることができ、微量試料でも検出が可能となる。また、分析後の洗浄が容易であるため、試料台の再利用が可能であり、ランニングコストを低くできる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

レーザー光照射により分析対象物をイオン化し質量分析を行う質量分析用試料台において、 逆ペロフスカイト構造を持つ結晶体が基材と分析対象物の間に設けてあることを特徴とする質量分析用試料台。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/64

FI (2件)：

G01N27/62 F ,  G01N27/64 B

Fターム (14件)：

2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041FA07 ,  2G041FA10 ,  2G041FA11 ,  2G041FA12 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA10 ,  2G041JA08