特許

J-GLOBAL ID：200903057841458033

テスト機能を有する半導体集積回路装置

発明者： 矢野 伸治
出願人/特許権者： ローム株式会社
代理人 (1件)： 佐野 静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-072203
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266817
出願日： 1999年03月17日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】本発明は、通常動作を行うために使用する機能用の端子以外に新たに端子を設けることなく、その内部回路の動作が正常なものか否かをテストすることが可能であるようなテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。【解決手段】半導体集積回路装置10内部に、出力端子OUTとエミッタが接続されたPNP接合型トランジスタTr2と、該トランジスタTr2のコレクタに接続されトランジスタTr2より信号が入力されると出力回路を強制的に停止させるとともに出力回路前段の信号処理回路を強制的に動作させるスイッチング回路9を設け、半導体集積回路装置10外部に、出力端子OUTに接続されたスイッチSWと、一端がスイッチSWに接続されるとともに他端に電圧Vcc+αが印加された抵抗R2とを設けることによって、出力端子OUTを半導体集積回路10をテストモードにするための信号を入力するための端子及びテストモードにおける前記信号処理回路から送出される信号を出力するための端子として使用する。

請求項（抜粋）：

通信用信号を処理する信号処理回路と、該信号処理回路で処理される信号を出力端子に導出する出力回路とを有する半導体集積回路装置において、前記出力端子にエミッタが接続されるとともに、前記信号処理回路からの信号経路がベースに接続されたPNP接合型トランジスタと、前記PNP接合型トランジスタのコレクタに接続するとともに、前記PNP接合型トランジスタのコレクタに所定値以上の電圧が与えられたとき、前記出力回路の動作を強制的に停止させるスイッチング回路とを半導体集積回路装置内部に有することによって、前記信号処理回路が正常に動作するか否かを試験することを可能にしたことを特徴とするテスト機能を有する半導体集積回路装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (2件)：

G01R 31/28 V ,  H01L 27/04 L

Fターム (15件)：

2G032AK11 ,  2G032AL05 ,  5F038AZ07 ,  5F038BE05 ,  5F038BE08 ,  5F038DF01 ,  5F038DF12 ,  5F038DF14 ,  5F038DT02 ,  5F038DT03 ,  5F038DT08 ,  5F038EZ04 ,  9A001BB05 ,  9A001KK31 ,  9A001LL05

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 強制動作機能付き制御回路及び半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-003510   出願人：ローム株式会社
• 特開昭63-262574