特許
J-GLOBAL ID：200903057868165283
欠点検出方法における2値化レベルの決定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岩佐 義幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-092053
公開番号（公開出願番号）：特開平8-285789
出願日： 1995年04月18日
公開日（公表日）： 1996年11月01日
要約：
【要約】【目的】 欠点をガスによる丸泡欠点とガス以外の異物欠点とに分類して検出する欠点検出方法における2値化レベルの決定方法を提供する。【構成】 搬送する透光性板状体の一方の面から光を照射し、他方の面で透光性板状体をカメラで撮影し、前記カメラの出力する輝度信号を2値化レベルで2値化し、2値画像により前記透光性板状体中に存在する欠点を検出する欠点検出方法において、2値化レベルを、丸泡欠点の2値画像の形状が丸泡欠点の輪郭部のみとなるように決定する。
請求項（抜粋）：
搬送する透光性板状体の一方の面から光を照射し、他方の面で前記透光性板状体をカメラで撮像し、前記カメラの出力する輝度信号を2値化レベルで2値化し、2値画像により前記透光性板状体中に存在する欠点を検出する欠点検出方法において、前記2値化レベルを、丸泡欠点の2値画像の形状が丸泡欠点の輪郭部のみとなるように決定することを特徴とする、欠点検出方法における2値化レベルの決定方法。
引用特許：
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