特許
J-GLOBAL ID：200903057888244040
分岐形光線路の試験方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井出 直孝 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-020332
公開番号（公開出願番号）：特開平6-229713
出願日： 1993年02月08日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】【目的】 局内装置と複数の加入者端末とを光分岐回路および光ファイバを介して相互に接続する分岐形光線路に局側から試験光を送出してその戻り光を観測する試験方法において、光ファイバ長差が小さい場合でも加入者端末近傍からの反射光を識別する。【構成】 局側から光周波数が時間と共に変化する可干渉光を送出し、反射光相互間の干渉によりビート信号の周波数分布を測定する。
請求項（抜粋）：
加入者端末が接続された複数の光ファイバに局側から到来する試験光を反射する反射手段をそれぞれ設け、この複数の光ファイバに局側から光合分岐回路を介して試験光を入力し、この試験光の入力に対して上記複数の光ファイバおよび上記反射手段から戻ってくる光を測定する分岐形光線路の試験方法において、上記試験光として光周波数が時間と共に変化する可干渉光を用い、上記測定は、上記反射手段からの反射光の相互間の干渉によって生じるビート信号の周波数分布から上記複数の光ファイバを個々に識別して行うことを特徴とする分岐形光線路の試験方法。
IPC (3件)：
G01B 9/02
, G01M 11/00
, H04B 10/02
