特許
J-GLOBAL ID：200903057898913233
光パルス試験器
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-196491
公開番号（公開出願番号）：特開平5-040075
出願日： 1991年08月06日
公開日（公表日）： 1993年02月19日
要約：
【要約】【目的】 コヒーレント検波方式を用いる光パルス試験器において、後方散乱波形上のフェージングノイズが小さい光パルス試験器を提供すること。【構成】 温度制御部22により半導体レ-ザ21の温度を変化させ、光周波数が変化する試験信号光a及びロ-カル信号光bを発生する。この試験信号光aをパルス化すると共に偏波状態を変化させて被試験光ファイバ5に入射し、この被試験光ファイバ5からの反射光及び後方散乱光cとロ-カル信号光bと合分岐器6により合波してビ-ト信号光dを生成する。このビ-ト信号光dを受光器7で電気信号に変換し、加算処理した後、後方散乱波形をCRT11に表示する。【効果】 後方散乱波形上のフェ-ジングノイズが低減され、被試験光ファイバ5の途中に接続箇所や損失の変化する箇所があれば、後方散乱波形上で段差として判別できるようになる。
請求項（抜粋）：
試験信号光及びロ-カル信号光の信号光発生手段と、前記試験信号光をパルス化して所定周期ごとに被試験光ファイバに繰り返し送出する光パルス生成手段と、前記被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる反射光及び後方散乱光を受光し、前記ロ-カル信号光と合波してビ-ト信号光を生成する光合波手段と、該ビ-ト信号光を電気信号に変換する光電気変換手段と、該電気信号を加算処理する加算処理手段と、該加算処理の結果に基づいて前記反射光及び後方散乱光の波形を表示する表示手段とを備えた光パルス試験器において、前記試験信号光及びロ-カル信号光の光周波数を、前記光パルスの所定周期毎に変化させる光周波数可変手段と、前記試験信号光もしくは前記ロ-カル信号光の偏波状態を、前記光パルスの所定周期毎に変化させる偏波状態制御手段とを設けた、ことを特徴とする光パルス試験器。
IPC (2件)：
引用特許：
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