特許

J-GLOBAL ID：200903057920095183

検査用回路基板装置

発明者： 五十嵐 久夫 ,  戸塚 考吉 ,  森 康博 ,  小山 憲一
出願人/特許権者： 日本合成ゴム株式会社
代理人 (1件)： 大井 正彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-080272
公開番号（公開出願番号）：特開平8-278341
出願日： 1995年04月05日
公開日（公表日）： 1996年10月22日
要約：

【要約】【目的】 表面に突出部が形成された検査対象回路装置に対して確実に所期の電気的な接続を達成することができる検査用回路基板装置を提供すること。【構成】 表面に突出部が形成された検査対象回路装置を検査するための検査用回路基板装置であって、検査用回路基板と、検査用回路基板のリード電極領域の表面上に一体に形成された異方導電性コネクター層とを備えてなる。検査用回路基板は、そのリード電極領域に、検査対象回路装置における検査に係る端子電極に対応するパターンに従って検査用リード電極が設けられている。異方導電性コネクター層の表面には、検査対象回路装置の突出部を受容する突出部受容部が形成されている。

請求項（抜粋）：

表面に突出部が形成された検査対象回路装置を検査するための検査用回路基板装置であって、そのリード電極領域に、検査対象回路装置における検査に係る端子電極に対応するパターンに従って検査用リード電極が設けられてなる検査用回路基板と、この検査用回路基板のリード電極領域の表面上に一体に形成された異方導電性コネクター層とを備えてなり、前記異方導電性コネクター層の表面に、検査対象回路装置の突出部を受容する突出部受容部が形成されていることを特徴とする検査用回路基板装置。

IPC (4件)：

G01R 31/02 ,  G01R 31/28 ,  H01R 11/01 ,  H01R 23/68 303

FI (4件)：

G01R 31/02 ,  H01R 11/01 A ,  H01R 23/68 303 E ,  G01R 31/28 K

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 回路基板検査用アダプター装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-253528   出願人：日本合成ゴム株式会社
• 特開昭63-302377