特許
J-GLOBAL ID:200903057947237516
発光測定用のマイクロプレートおよび発光測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
樺山 亨 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-185373
公開番号(公開出願番号):特開2003-004629
出願日: 2001年06月19日
公開日(公表日): 2003年01月08日
要約:
【要約】【課題】クロストークを有効に軽減し、あるいは、蛍光や化学発光の微弱な発光を効率的に検出・測定することを可能ならしむるマイクロプレートを実現する。【解決手段】発光試料を収容するためのウェルWijを複数個、所定の配列に従って規則的に形成され、少なくとも各ウェルの底部が光透過性で、各ウェルにおける発光を光透過性の底部を介して測定するためのマイクロプレートにおいて、各ウェルWijの底部ごとに、正のパワーを持つレンズ面Lzijが形成されている。
請求項(抜粋):
発光試料を収容するためのウェルを複数個、所定の配列に従って規則的に形成され、少なくとも各ウェルの底部が光透過性で、各ウェルにおける発光を上記光透過性の底部を介して測定するためのマイクロプレートにおいて、各ウェルの底部ごとに、正のパワーを持つレンズ面を形成されたことを特徴とする発光測定用のマイクロプレート。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 21/03 Z
, G01N 21/64 F
Fターム (22件):
2G043CA03
, 2G043DA02
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043EA13
, 2G043GA04
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043HA05
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043MA01
, 2G057AA04
, 2G057AA14
, 2G057AC01
, 2G057BA03
, 2G057BB06
, 2G057DA01
, 2G057DA03
, 2G057DA04
, 2G057DB01
, 2G057DB05
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