特許

J-GLOBAL ID：200903057955761208

表面皮膜厚測定装置

発明者： 二木 一元 ,  中尾 展行
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-066171
公開番号（公開出願番号）：特開平7-280503
出願日： 1994年04月04日
公開日（公表日）： 1995年10月27日
要約：

【要約】【目的】 走行する金属帯等の表面皮膜の厚さを測定する装置を提供する。【構成】 金属帯4の表面皮膜5に電極を接触させて静電容量を計測し表面皮膜の厚さを測定する静電容量型の表面皮膜厚測定装置において、少なくとも1つの電極1の構造が回転可能な円筒型であることを特徴とする表面皮膜厚測定装置。更に、電極1が2つ備えられていることを特徴とする表面皮膜厚測定装置。【効果】 走行中の金属帯に電極を接触させることにより、オンラインで静電容量方式の表面皮膜厚の測定が可能となる。

請求項（抜粋）：

金属帯の表面皮膜に電極を接触させて静電容量を計測し表面皮膜の厚さを測定する静電容量型の表面皮膜厚測定装置において、少なくとも1つの電極の構造が回転可能な円筒型であることを特徴とする表面皮膜厚測定装置。