特許
J-GLOBAL ID：200903057962614768
試験クロツク供給装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
内原 晋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-240705
公開番号（公開出願番号）：特開平5-080872
出願日： 1991年09月20日
公開日（公表日）： 1993年04月02日
要約：
【要約】【目的】事前準備が簡単で、試験クロック周波数の選択も容易で、かつ、安価な試験クロック供給装置の提供。【構成】試験に必要なクロック周波数を発生する発振素子1〜8を設け、選択信号発生回路10で所望の試験クロック周波数を選択する選択信号を発生させ、これを選択回路9でデコードして所望の試験クロック周波数を選択して被試験装置に供給する。
請求項（抜粋）：
互いに相異なる試験クロック周波数を発振する複数個の発振手段と、所望の試験クロック周波数を選択する選択信号を発生する選択信号発生手段と、前記複数個の発振手段から試験クロック周波数の供給を受け前記選択信号発生手段から供給される選択信号を解読して対応する試験クロック周波数を選択する選択手段とを含むことを特徴とする試験クロック供給装置。
IPC (2件)：
G06F 1/04 301
, G06F 11/22 310
