特許
J-GLOBAL ID:200903057997511287

金属ライナ又は被覆の厚さを決定するシステム及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 生沼 徳二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-326879
公開番号(公開出願番号):特開平7-280975
出願日: 1994年12月28日
公開日(公表日): 1995年10月27日
要約:
【要約】【目的】 金属管の内面に設けられている金属ライナ又は被覆の厚さを金属管を傷つけることなく正確に決定することのできるシステムを提供する。【構成】 本発明に係るシステムは、電磁測定サブシステム502及び超音波測定サブシステム503に接続されている計算機501と、記憶装置504と、入出力装置506とを利用している。示差コイル対508から成っている渦電流プローブ装置を用いて、被覆管の外側からインピーダンス測定値を収集する。同じライナ厚さと様々な管内外径とに対する較正基準インピーダンス値が測定され、記憶装置504に記憶される。同じ内外径と様々なライナ厚さとに対する較正基準インピーダンス値も測定され、記憶される。被覆管の試験が行われ、管内径が電磁技術及び超音波技術により計算及び測定される。超音波技術により測定した内径と渦電流技術により決定した内径との差に基づいて、ライナ厚さの特定計算が行われる。
請求項(抜粋):
金属管の内面に設けられている金属ライナ又は被覆の厚さを決定するシステムであって、電磁式渦電流誘起インピーダンス測定サブシステムと、超音波寸法測定サブシステムと、前記電磁サブシステム及び前記超音波サブシステムにより供給された測定データを記憶する記憶装置と、前記超音波サブシステム及び前記電磁サブシステムと、前記記憶装置とに接続されており、前記電磁測定サブシステム及び前記超音波測定サブシステムから得られた前記測定データに基づいて前記ライナの厚さを計算する演算処理ユニットとを備えた金属ライナ又は被覆の厚さを決定するシステム。
IPC (5件):
G21C 3/20 ,  G01B 7/00 ,  G01B 7/06 ,  G01B 17/00 ,  G01B 21/08
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭60-131404
  • 特開昭60-131404

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