特許
J-GLOBAL ID：200903058075647704
粒子計数装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
小山 有
, 稲元 富保
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-192052
公開番号（公開出願番号）：特開2009-030988
出願日： 2007年07月24日
公開日（公表日）： 2009年02月12日
要約：
【課題】 光が照射される照射領域の光強度分布が、一様でなくても、正確に粒径を弁別して粒子を計数できる粒子計数装置を提供する。【解決手段】 レーザ光Laの照射領域10を通過する粒子8の散乱光Lsを検出する粒子検出部1と、粒子検出部1の出力信号の波形形状又はパルス幅により粒子検出部1の出力信号が、照射領域10の検出領域10a内から発せられた信号であるか否かを判断すると共に、粒子検出部1の出力信号の電圧値が所定値以上であるか否かを判断し、粒子検出部1の出力信号が検出領域10a内で且つ所定値以上の場合に計数信号を出力する信号処理部3と、信号処理部3が発する計数信号をカウントする計数部4を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光の照射領域を通過する粒子の散乱光を検出する散乱光検出手段と、この散乱光検出手段の出力信号が、照射領域の所定範囲内から発せられた信号であるか否かを判断すると共に、前記散乱光検出手段の出力信号の電圧値が所定値以上であるか否かを判断し、前記出力信号が所定範囲内で且つ所定値以上の場合に計数信号を出力する信号処理手段と、この信号処理手段が発する計数信号をカウントする計数手段を備えることを特徴とする粒子計数装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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