特許
J-GLOBAL ID：200903058077772107
位相特性測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 石田 悟
, 柴田 昌聰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-343638
公開番号（公開出願番号）：特開2005-106751
出願日： 2003年10月01日
公開日（公表日）： 2005年04月21日
要約：
【課題】 分光計測部の波長分解能が低い場合であっても被測定光パルスの位相特性を容易に高精度に測定することができる位相特性測定装置を提供する【解決手段】 ダブル光パルス生成部10から出力されたダブル光パルスと、チャープ付与部20から出力されたチャープ光パルスとは、和周波光生成部30に入力して、和周波光が生成される。ダブル光パルス生成部10から出力されたダブル光パルスは高調波光生成部40に入力して、高調波光が生成される。和周波光と高調波光とのうち何れかが選択部60により選択されて分光計測部50へ入力し、分光計測部50により分光計測される。解析部70により、分光計測部50による高調波光の分光計測の結果に基づいて、分光計測部50による和周波光の分光計測の結果が補正され、この補正された和周波光の分光計測の結果が解析されて被測定光パルスの位相特性が測定される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定光パルスを入力し、この被測定光パルスをパルス間隔τのダブル光パルスに変換して、このダブル光パルスを出力するとともに、このパルス間隔τの調整が可能であるダブル光パルス生成部と、
プローブ光パルスを入力し、このプローブ光パルスにリニアなチャープを与えてチャープ光パルスに変換し、このチャープ光パルスを出力するチャープ付与部と、
前記ダブル光パルス生成部から出力されたダブル光パルスと、前記チャープ付与部から出力されたチャープ光パルスとを入力して、これらダブル光パルスおよびチャープ光パルスそれぞれの光周波数の和に等しい光周波数を有する和周波光を生成し出力する和周波光生成部と、
前記ダブル光パルス生成部から出力されたダブル光パルスを入力し、このダブル光パルスの光周波数の2倍の光周波数を有する高調波光を生成し出力する高調波光生成部と、
入力した光を分光計測する分光計測部と、
前記和周波光生成部から出力された和周波光と、前記高調波光生成部から出力された高調波光との、何れかを選択的に前記分光計測部へ入力させる選択部と、
前記和周波光生成部から出力された和周波光が前記分光計測部により分光計測された結果を、前記高調波光生成部から出力された高調波光が前記分光計測部により分光計測された結果に基づいて補正するとともに解析して、前記被測定光パルスの位相特性を測定する解析部と、
を備えることを特徴とする位相特性測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
2G065AB14
, 2G065BA01
, 2G065BB14
, 2G065BB21
, 2G065BB36
, 2G065BC07
, 2G065BC13
, 2G065DA20
