特許

J-GLOBAL ID：200903058090613034

歪み等の計測方法及び計測装置並びにレーザ光源

発明者： 源地 武士 ,  今村 一雄
出願人/特許権者： 三菱電線工業株式会社
代理人 (1件)： 前田 弘 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-256769
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071386
出願日： 2000年08月28日
公開日（公表日）： 2002年03月08日
要約：

【要約】【課題】 投入光のうちの特定波長の光を反射しかつその反射光の特定波長が歪み又は温度に応じて変化する短周期ファイバグレーティング2に投入光を投入し、そのファイバグレーティング2による反射光の特定波長の変化量に基づいてファイバグレーティング2の歪み又は温度を計測する場合に、そのファイバグレーティング2での反射光のピーク強度を増大して、高感度の計測手段を要することなく反射光のピーク波長を検出できるようにする。【解決手段】 入力光を所定の増幅利得で増幅して出力するEDFA5の出力光を計測光としてファイバグレーティング2に投入し、このファイバグレーティング2による特定波長の反射光をEDFA5に再入力させて発振させるファイバレーザ回路6を形成し、このファイバレーザ回路6による発振光の波長に基づいてファイバグレーティング2の歪み又は温度を計測する。

請求項（抜粋）：

投入光のうちの特定波長の光を反射光として反射しかつ該反射光の特定波長が少なくとも歪み又は温度に応じて変化するファイバグレーティングに投入光を投入し、該ファイバグレーティングによる反射光の特定波長に基づいてファイバグレーティングの歪み又は温度を計測する歪み等の計測方法において、入力光を所定の増幅利得で増幅して出力する光増幅手段の出力光を投入光として上記ファイバグレーティングに投入し、上記ファイバグレーティングにより反射された特定波長の反射光を上記光増幅手段の入力部に再入力させて発振させるファイバレーザを形成し、上記ファイバレーザの発振光の波長に基づいてファイバグレーティングの歪み又は温度を計測することを特徴とする歪み等の計測方法。

IPC (7件)：

G01D 5/26 ,  G01B 11/16 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24 ,  G01M 11/00 ,  H01S 3/00 ,  H01S 3/06

FI (7件)：

G01D 5/26 D ,  G01B 11/16 Z ,  G01K 11/12 F ,  G01L 1/24 A ,  G01M 11/00 U ,  H01S 3/00 F ,  H01S 3/06 B

Fターム (25件)：

2F056VF02 ,  2F065AA65 ,  2F065BB12 ,  2F065BB22 ,  2F065CC23 ,  2F065DD04 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ00 ,  2F065LL02 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ44 ,  2F103BA10 ,  2F103CA06 ,  2F103EB02 ,  2F103EB11 ,  2F103EC08 ,  2F103EC10 ,  2G086DD04 ,  2G086DD05 ,  5F072AB09 ,  5F072AK06 ,  5F072KK30 ,  5F072YY11