特許
J-GLOBAL ID:200903058115392690
帯状ガラスの特徴付けを行う方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-547335
公開番号(公開出願番号):特表2009-520679
出願日: 2006年12月14日
公開日(公表日): 2009年05月28日
要約:
ダウンドロー法ガラス形成プロセスで形成される帯状ガラスの幅にわたって測定される温度及び/又は位置ずれを測定する方法及び装置である。帯状ガラスに接触しない測定アセンブリによって、温度及び位置ずれの測定が、高い空間分解能で同時に行われ得るのが有利である。温度測定は、帯状ガラスの略全幅にわたって行われ得る。測定アセンブリによって生成されたデータは、帯状ガラスの形成条件を制御するために自動フィードバックループで用いられ得る。
請求項(抜粋):
帯状ガラスの特徴付けを行う装置であって、
ダウンドロー法によって形成される帯状ガラスの少なくとも粘性領域及び粘弾性領域の周囲に配設される囲いであって、該囲いの壁にスリットを有する囲いと、
前記囲いに取り付けられた少なくとも1つの測定アセンブリであって、ハウジングと、前記スリットを通して前記帯状ガラスの少なくとも1つの属性を測定するよう構成された少なくとも1つの測定装置とを有する前記少なくとも1つの測定アセンブリと、
前記帯状ガラスと前記少なくとも1つの測定装置との間に配設され、開放位置と閉鎖位置との間で動作可能なシャッターと、
を備え、
前記シャッターの温度が調整されることを特徴とする装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (5件):
4G015CA01
, 4G015CA08
, 4G015CA10
, 4G015CB02
, 4G015CC02
引用特許:
出願人引用 (2件)
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米国特許第3,338,696号明細書
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米国特許第3,682,609号明細書
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