特許

J-GLOBAL ID：200903058122718380

幅測定器の校正装置とこれを用いた補正方法

発明者： 一瀬 康明 ,  吉野 誠 ,  石松 彰 ,  櫻庭 穣
出願人/特許権者： 株式会社ニレコ ,  新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 奈良 繁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-290866
公開番号（公開出願番号）：特開平6-117823
出願日： 1992年10月05日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：

【要約】【目的】 校正精度の向上【構成】 ベースプレート10の1辺上に中心より等距離に幅校正用測定片Ek対を設ける。このEkに対応したFkの幅を持つカバープレート12を上記1辺の直角方向に移動することによりEkとFkを重ね合せ、Ek〜Ek間の校正用幅を構成できるようにする。

請求項（抜粋）：

所定距離離してその所定距離方向に配置したリニアセンサを有する2つの検出器を設け、前記所定距離方向に幅を有する物体の幅端を境にして明るさが変化することを検知して前記物体の幅を計測する幅計測器の校正装置において、中心より左右方向に等しい距離に幅校正用測定片を対として設けた幅校正用測定片対と、この幅校正用測定片対を前記中心に近い方から第1対、第2対、...第n対とし、この第1対間、第2対間、...第n対間をそれぞれ遮光材で遮光する遮光手段を備え、前記中心を前記2つの検出器の中心とほぼ一致させ、前記左右方向を前記所定距離方向に一致させて使用するようにしたことを特徴とする幅測定器の校正装置。