特許
J-GLOBAL ID：200903058195490809

偽造防止体及び偽造判別方法

発明者：
横山 祐美

横山 祐美 について


出願人/特許権者：
大日本印刷株式会社

大日本印刷株式会社 について


代理人 (1件)： 鎌田 久男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-058575
公開番号（公開出願番号）：特開2000-255200
出願日： 1999年03月05日
公開日（公表日）： 2000年09月19日
要約：
【要約】【課題】 意匠性に富み、偽造が困難で、簡単に偽造判別することができる偽造防止体及び偽造判別方法を提供する。【解決手段】 基材11と、基材11の所定領域に形成され、入射した光のうち、左円偏光又は右円偏光のいずれか一方の光のみ反射する第1光選択反射層12と、第1光選択反射層12に形成され、左円偏光を入射したときは、その左円偏光を右円偏光に変換して射出し、右円偏光を入射したときは、その右円偏光を左円偏光に変換して射出する位相差付与層13と、位相差付与層13の所定領域に形成され、第1光選択反射層12が反射する偏光と同じ円偏光を反射する第2光選択反射層14とを有する。
請求項（抜粋）：
基材と、前記基材の所定領域に形成され、入射した光のうち、左円偏光又は右円偏光のいずれか一方の光のみ反射する第1光選択反射層と、前記第1光選択反射層に形成され、左円偏光を入射したときは、その左円偏光を右円偏光に変換して射出し、右円偏光を入射したときは、その右円偏光を左円偏光に変換して射出する位相差付与層と、前記位相差付与層の所定領域に形成され、前記第1光選択反射層が反射する偏光と同じ円偏光を反射する第2光選択反射層とを有する偽造防止体。
IPC (4件)：
B44F 1/12 ,  B42D 15/10 531 ,  B42D 15/10 541 ,  G07D 7/00
FI (4件)：
B44F 1/12 ,  B42D 15/10 531 B ,  B42D 15/10 541 A ,  G07D 7/00 E
Fターム (21件)：
2C005HA01 ,  2C005HA06 ,  2C005HB02 ,  2C005HB04 ,  2C005HB09 ,  2C005HB10 ,  2C005HB11 ,  2C005HB13 ,  2C005JA15 ,  2C005JC06 ,  2C005KA37 ,  2C005KA48 ,  2C005LA11 ,  2C005LB15 ,  3E041AA01 ,  3E041AA02 ,  3E041AA03 ,  3E041BA14 ,  3E041BA20 ,  3E041BB03 ,  3E041DB01
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (4件)
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