特許
J-GLOBAL ID：200903058210977639
法線ベクトルの取得システム、法線ベクトルの取得方法、および、法線ベクトルを用いた認証方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
成瀬 重雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-379502
公開番号（公開出願番号）：特開2004-213159
出願日： 2002年12月27日
公開日（公表日）： 2004年07月29日
要約：
【課題】法線ベクトルの取得システムおよび取得方法を提供する。【解決手段】光源に、第1〜第3発光部11〜13を備える。第1〜第3発光部11〜13は、それぞれ、対象物5に対して光を発する。この光は、互いに同じ周波数でかつ2/3πずつ位相が異なる正弦波状に強度変調される。さらに、第1〜第3発光部11〜13は、正三角形の頂点となる位置に配置される。センサ部2は、対象物5によって反射された光を受光する。さらにセンサ部2は、受光した光の強度信号と第1〜第3参照信号とのそれぞれの時間相関による第1〜第3相関信号を生成する。参照信号は、互いに同じ周波数でかつ2/3πずつ位相が互いに異なる正弦波状とされる。解析部3は、第1〜第3相関信号を用いて法線ベクトル情報を生成する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源と、センサ部と、解析部とを備え、
前記光源は、第1〜第3発光部を備えており、前記第1〜第3発光部は、それぞれ、対象物に対して光を発するものであり、前記第1〜第3発光部から発せられる光は、互いに同じ周波数でかつ2/3πずつ位相が異なる正弦波状に強度変調されており、さらに、前記第1〜第3発光部は、正三角形の頂点となる位置に配置されており、
前記センサ部は、前記対象物によって反射された前記光を受光し、受光した光の強度信号と第1〜第3参照信号とのそれぞれの時間相関による第1〜第3相関信号を生成する構成となっており、前記参照信号は、互いに同じ周波数でかつ2/3πずつ位相が互いに異なる正弦波状とされており、
前記解析部は、前記第1〜第3相関信号を用いて法線ベクトル情報を生成するものである
ことを特徴とする法線ベクトルの取得システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06T1/00 315
, G01B11/00 H
2F065AA00
, 2F065AA01
, 2F065AA35
, 2F065FF04
, 2F065GG07
, 2F065GG12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ03
, 2F065QQ17
, 2F065QQ31
, 5B057BA02
, 5B057BA29
, 5B057CA13
, 5B057CA17
, 5B057CC01
, 5B057CH08
, 5B057CH18
, 5B057DA02
, 5B057DA07
, 5B057DA13
, 5B057DB03
, 5B057DC08
, 5B057DC09
, 5B057DC36
