特許

J-GLOBAL ID：200903058218748680

パターン濃度検査方法

発明者： 脇谷 康一 ,  横山 晴彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-330713
公開番号（公開出願番号）：特開平10-171991
出願日： 1996年12月11日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 判定結果と目で見た感じとが一致し、しかも、迅速に検査できるパターン濃度検査方法の提供。【解決手段】 文字・記号からなる捺印パターンのパターン濃度検査方法において、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎に、所定間隔を設けた代表走査線が各文字・記号の輪郭線内に連続して重なる部分をラン1として設定し、設定した各ラン1の中心画素をその文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画素1aとし、各文字・記号毎に前記複数の代表画素1aの濃度値の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

文字・記号からなる捺印パターンのパターン濃度検査方法において、検査すべき捺印パターンを撮像し、各文字・記号毎に文字・記号の輪郭線内にその文字・記号の捺印濃度を代表する複数の代表画素を設定し、各文字・記号毎に前記複数の代表画素の濃度値の平均値を計算し、各文字・記号毎に前記の計算した濃度値の平均値が予め設定してある許容濃度範囲から外れる場合にその文字・記号の捺印濃度を不良と判定することを特徴とするパターン濃度検査方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G01N 21/88 ,  G06K 9/38

FI (3件)：

G06F 15/62 410 A ,  G01N 21/88 J ,  G06K 9/38 K