特許
J-GLOBAL ID:200903058305269852

流体粒子のパラメータを測定する装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉本 勝徳
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-537512
公開番号(公開出願番号):特表2001-503848
出願日: 1997年04月11日
公開日(公表日): 2001年03月21日
要約:
【要約】流体中の粒子のパラメータを測定する装置および方法、殊に、機械で使用される流体中の不純物混入や摩耗粒子を測定することにより不純物混入や機械摩耗を測定する装置および方法を開示するものである。第1実施例では、測定セル(10)に流体流路を設け、そして、この流体流路に近接して第1ホールプローブ(60)を配置し、反磁性、常磁性、強磁性の粒子を検出できるようにするとともに、発光ダイオード(50)からなる第2光センサとフォトトランジスタ(42)とを設けて粒子を光学的に検知するようにする。そして、ホールプローブ(60)と光検出器との相関関係により粒子の表示を行ない、それら粒子のパラメータを求めて不純物混入や機械摩耗の徴候を示せるようにした。第2実施例では、流体室を有する測定セル(10)を設けるとともに、そのセルにパルス光源を2個配置して、流体中を荷電結合素子(92)まで光を透過させ、流体中を透過し粒子を通過した光により第1像を形成するとともに、第2パルス光源を設けて粒子が反射するようにして、反射光による第2像を形成するようにした。そして、第1像と第2像との比較により金属粒子を測定して、その粒子のパラメータを測定するようにし、以って、不純物混入や機械摩耗の徴候を示せるようにした。
請求項(抜粋):
流体中の粒子のパラメータを測定するための装置であって、以下のものから成る装置: 流体中の一定種類の粒子を検出するとともに、機械流体における粒子のパラメータに関する情報を提供する検出手段;および 前記流体中の一定種類の粒子のパラメータを測定する処理手段。
IPC (2件):
G01N 15/02 ,  G01N 27/74
FI (2件):
G01N 15/02 D ,  G01N 27/74

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