特許
J-GLOBAL ID：200903058418204498

計測用内視鏡装置

発明者：
中野 澄人

中野 澄人 について


出願人/特許権者：
オリンパス株式会社

オリンパス株式会社 について


代理人 (1件)： 大菅 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-171267
公開番号（公開出願番号）：特開2005-348870
出願日： 2004年06月09日
公開日（公表日）： 2005年12月22日
要約：
【課題】 本発明は計測対象を撮像して元画像として読み取り、読み取った元画像上の計測点の位置に基づいて計測を行う計測用内視鏡装置に関し、特に拡大画像上で容易に計測点を指定可能であり、高精度な計測を行うことができる計測用内視鏡装置を提供することを目的とする。【解決手段】 計測対象を撮像して得られた元画像に対し、第1の拡大画像生成処理を行い、計測点の周辺元画像の画素間隔より細かい単位で表示し、より詳細に輝度の変化が分かり、拡大画像上で特徴点の位置をより分かり易く表示し、ユーザに計測点の指定を容易に行わせることができる構成である。また、2値化処理を行うことによって2値化拡大画像を表示し、測定点の指定を容易にし、更に0次補間を行うことによって第2拡大画像を生成し、より容易に測定点の指定を可能とする構成である。【選択図】 図8
請求項（抜粋）：
画素単位でサンプリングして読み取った画像を元画像として取得する手段を有する計測用内視鏡装置において、 前記元画像の一部又は全部を1次以上の補間によって拡大画像を生成する第1の拡大画像生成手段と、 前記拡大画像上で計測点を指定する計測点指定手段と、 該計測点指定手段によって指定された計測点の前記元画像上の位置を元画像の画素間隔より細かい単位で算出する位置算出手段と、 該位置算出手段によって算出された位置に基づいて計測を行う計測手段と、 を有することを特徴とする計測用内視鏡装置。
IPC (3件)：
A61B1/00 ,  A61B1/04 ,  G02B23/24
FI (3件)：
A61B1/00 300D ,  A61B1/04 372 ,  G02B23/24 B
Fターム (12件)：
2H040DA01 ,  2H040DA21 ,  2H040GA02 ,  2H040GA10 ,  2H040GA11 ,  4C061AA29 ,  4C061CC06 ,  4C061HH51 ,  4C061LL02 ,  4C061NN05 ,  4C061WW03 ,  4C061WW11
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 特開平4-332523号公報
審査官引用 (4件)
  • 特開平4-332523
  • 電子内視鏡装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-020020   出願人：旭光学工業株式会社
  • 画像処理回路
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-175370   出願人：オリンパス光学工業株式会社
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